FISCHERSCOPE X-RAY 5000 x射線熒光測厚儀

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FISCHERSCOPE X-RAY 5000 x射線熒光測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY 5000系列儀器是為了集成到生產(chǎn)線而特別設計的法蘭式測量頭。它*適合于在連續(xù)運轉的生產(chǎn)過程中連續(xù)、非破壞地在線直接對大面積產(chǎn)品進行合金成分分析或者*薄鍍層測量。相對于X-RAY 4000系列而言，X-RAY5000沒有配備可切換的濾片和準直器，也沒有配備視頻系統(tǒng)，因為這些裝置對于表面積很大的樣品來說通常是不需要的。

X-RAY 5000系列儀器可以根據(jù)使用進行*定制：X射線源、基本濾片和半導體接收器，更能為您的應用配備*良好的半導體接收器。儀器可以在空氣或者真空環(huán)境下使用，此外還可以提供帶有水冷系統(tǒng)的法蘭接口，它可以讓儀器毫無問題地測量表面溫度非常高的樣品（表面溫度*高可達500℃）。

根據(jù)儀器的設計，測量距離可以在60mm至150mm之間調節(jié)：在特定的情況下，測量距離*大允許有1厘米的變動，例如由于樣品的起伏引起的，在測量時，WinFTM軟件會自動進行補償。儀器的校正直接在生產(chǎn)過程中對著校準板快速而簡便地完成。通過純元素庫的進行更好的校正（類似于臺式儀器的校準過程）是可行的，但是通常沒有必要。X-RAY 5000由于配備了*大的準直器、*良好的半導體接收器和數(shù)字脈沖處理器，重復精度非常好。儀器出色的長期穩(wěn)定性也大大降低了重新校準的必要，這樣既節(jié)約了時間，又節(jié)約了資源。

特征：
• 帶玻璃窗口的鎢靶的X射線管，也可選鈹窗口微聚焦鎢管、銠管或者鉬管，z高工作條件：50 kV, 50W
• X射線接收器采用珀耳帖法冷卻的硅-PIN探測器或者硅漂移探測器
• 固定的視準器：可選Ø 1 mm, Ø 2 mm, Ø4 mm 或者Ø 8 mm （使用SDD的機型還可以選用 Ø 11 mm）
• 固定的基本濾片
• 測量距離：可選60–100 mm 或者100–150mm

典型應用領域：
• 太陽能光伏業(yè)(CIGS, CIS, CdTe)
• 分析金屬帶、金屬箔和塑料薄膜上的*薄鍍層
• 連續(xù)生產(chǎn)過程在線測量
• 噴鍍和電鍍線的過程監(jiān)控
• 測量大面積樣品

應用實例：

在光伏產(chǎn)業(yè)中，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY 5000用來測量不同基材（如玻璃、金屬和塑料）上的CIGS、CIS和CdTe層的厚度和成分。該儀器設計非常緊湊，可以通過標準法蘭直接集成到生產(chǎn)線中去。整個工業(yè)設計專注于*大化其魯棒性和可維修性。例如：儀器可以在生產(chǎn)線真空環(huán)境中進行修理和維護，而并不需要中斷真空過程。為了將X-RAY 5000測量系統(tǒng)整合到上級的過程控制系統(tǒng)中，儀器具備符合工業(yè)標準的開放端口，例如：OPC。