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PhysiTest Elektrophysik代理現(xiàn)貨
濕膜厚度在實(shí)際中具有參考性和指導(dǎo)意義。濕膜厚度與干膜厚度的關(guān)系如下：
濕膜厚度=所需的干膜厚度/涂料固體成分的體積百分比
濕膜厚度=（所需的干膜厚度/涂料固體成分的體積百分比）*（100%+添加的稀釋劑百分比）
注：涂料的固體成分百分比可根據(jù)所用涂料的參數(shù)確定。
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濕膜輪測(cè)厚儀Wet Film Thickness
PhysiTest濕膜輪測(cè)厚儀可以用于測(cè)量平坦或彎曲表面的濕膜厚度。
PhysiTest濕膜輪測(cè)厚儀由兩個(gè)外同心輪和一個(gè)內(nèi)偏心輪組成。
當(dāng)濕膜輪在涂層表面滾動(dòng)時(shí)，內(nèi)輪接觸并粘起濕膜時(shí)所對(duì)應(yīng)的刻度即為濕膜厚度。
PhysiTest為不同要求提供三種基本規(guī)格產(chǎn)品。
產(chǎn)品信息
型號(hào) 名稱 量程
PhysiTest15201 濕膜輪 0-100μm
PhysiTest15202 濕膜輪 0-200μm
PhysiTest15203 濕膜輪 200-700μm
尺寸：直徑50mm×寬27mm
重量：0.35Kg
德國(guó)EPKMikroTest校準(zhǔn)板G、F、S3、S5兩件套 德國(guó)EPKMikroTest校準(zhǔn)板NiFe50/NI50兩件套 德國(guó)EPKMikroTest校準(zhǔn)板NiFe50/NI50四件套 德國(guó)EPKMikroTest校準(zhǔn)板G、F、S3、S5四件套 測(cè)頭FH 10 EPK壁厚測(cè)厚儀MiniTest FH7200 FH4探頭 測(cè)頭FH 4.1 EPK壁厚測(cè)厚儀MiniTest FH7400 EPK涂層測(cè)厚儀探頭Printer MiniPrint7000 A/B掃描超聲波測(cè)厚儀DMS2E/DMS2/DMS2TC 超聲波測(cè)厚儀TT130 超聲波測(cè)厚儀TT120 高精密超聲波測(cè)厚儀PX-7DL 高精密超聲波測(cè)厚儀PX-7 A/B掃描高精密超聲波測(cè)厚儀PVX 超聲波測(cè)厚儀TT100 高精密超聲波測(cè)厚儀CL400探頭 帶A/B掃描功能的超聲波測(cè)厚儀MVX 高精密超聲波測(cè)厚儀CL5
