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QNix 7500兩用探頭測(cè)厚儀
QNix 7500兩用探頭測(cè)厚儀
測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同，可大致分為：1、接觸式測(cè)厚儀接觸面積大小劃分：點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀面接觸時(shí)測(cè)厚儀
2、非接觸式測(cè)厚儀非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同，又可分為以下幾種：激光測(cè)厚儀：是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測(cè)量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。超聲波測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。涂層測(cè)厚儀：用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.X射線測(cè)厚儀：利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.白光干涉測(cè)厚儀電解式測(cè)厚儀
QNix7500：
通過與工藝，行業(yè)和服務(wù)行業(yè)的用戶密切合作，已經(jīng)創(chuàng)建了一個(gè)模塊化涂層厚度計(jì)，將各種經(jīng)過驗(yàn)證的QNix7500量規(guī)的許多特性結(jié)合在一個(gè)設(shè)備中。模塊化測(cè)量系統(tǒng)QNix7500是一種特別小巧便利的涂層厚度計(jì)，可直接插入微型探頭。為了靈活使用，微型探頭也可以連接到延長(zhǎng)電纜。QNix7500模塊化測(cè)量系統(tǒng)提供高達(dá)5000μm的移動(dòng)性，高測(cè)量精度，易于處理和不同尋常的應(yīng)用。 QNix7500是一種特別小巧便利的測(cè)量?jī)x，用于對(duì)所有Fe和NFe襯底上的涂層厚度進(jìn)行非破壞性測(cè)量?？梢酝ㄟ^直接插入微型探頭或?qū)⑻筋^連接到插入的延長(zhǎng)電纜上使用。
QNix 7500兩用外置探頭測(cè)厚儀
影響測(cè)厚儀測(cè)量數(shù)值的主要因素：
1.工件表面粗糙度過大，造成探頭與接觸面耦合效果差，反射回波低，甚至無法接收到回波信號(hào)。對(duì)于表面銹蝕，耦合效果極差的在役設(shè)備、管道等可通過砂、磨、挫等方法對(duì)表面進(jìn)行處理，降低粗糙度，同時(shí)也可以將氧化物及油漆層去掉，露出金屬光澤，使探頭與被檢物通過耦合劑能達(dá)到很好的耦合效果。 2.鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大，超聲波在其中穿過時(shí)產(chǎn)生嚴(yán)重的散射衰減，被散射的超聲波沿著復(fù)雜的路徑傳播，有可能使回波湮沒，造成不顯示。可選用頻率較低的粗晶探頭(2.5MHz)。 3.被測(cè)物背面有大量腐蝕坑。由于被測(cè)物另一面有銹斑、腐蝕凹坑，造成聲波衰減，導(dǎo)致讀數(shù)無規(guī)則變化，在情況下甚至無讀數(shù)。 4.金屬表面氧化物或油漆覆蓋層的影響。金屬表面產(chǎn)生的致密氧化物或油漆防腐層，雖與基體材料結(jié)合緊密，無名顯界面，但聲速在兩種物質(zhì)中的傳播速度是不同的，從而造成誤差，且隨覆蓋物厚度不同，誤差大小也不同。
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